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采用氧化法顯示晶粒時，經常因氧化過重或磨掉深度過淺使奧氏體晶內的嵌鑲塊邊界也與晶間一同被氧化后并顯示，同時試樣也容易受奧氏體化前期低溫氧化的影響，因此往往在試樣表層遺留下細晶的假相。若加熱時保護不當產生全脫碳區，也要出現假的大晶粒。因此，在氧化法操作中，應嚴防加熱及保溫過程中的氧化與脫碳。cYU熱處理技術網 — 熱處理行業的超級智庫 CHTE 最全的熱處理技術信息網站 熱處理技術網 CHTE
3、網狀鐵素體法
網狀鐵素體法適用于測定亞共析鋼的奧氏體晶粒。其過程是將試樣加熱到930℃±10℃，保溫3小時后再根據鋼種不同，選擇適當的冷卻方法（可直接水冷、油冷、空冷、爐冷或等溫冷卻等），將試樣冷卻。試樣處理后，用硝酸或苦味酸酒精溶液腐蝕，以便顯示出圍攏在腐蝕變黑的組織（珠光體、貝氏體或馬氏體）周圍的網狀鐵素體（見圖1—39所示）；鐵素體所環撓面積的尺寸即為原奧氏體晶粒的大小。
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4、網狀珠光體（屈氏體）法cYU熱處理技術網 — 熱處理行業的超級智庫 CHTE 最全的熱處理技術信息網站 熱處理技術網 CHTE
網狀珠光體法適用于淬透性不大的碳素鋼及低合金鋼。奧氏體晶粒的測量，將試樣在930℃±10℃爐內加熱，保溫3小時后，將試樣一端淬入水中。冷卻后在試樣過渡帶可清晰地看到圍繞在馬氏體周圍的黑色屈氏體組織，它所環繞的面積，即為原奧氏體晶粒。如圖1—40所示。試樣熱處理后，磨去脫碳層，拋光后用硝酸或苦味酸酒精溶液腐蝕。
5、加熱緩冷法
適用于測定過共析鋼的奧氏體晶粒度。試驗時將試樣加熱至930℃±10℃，保溫3小時后冷卻到600℃（冷卻速度為80～100℃/小時），使碳化物沿奧氏體晶界析出以顯示晶粒大小。經上述熱處理的試樣拋光后，應使用硝酸或苦味酸酒精溶液腐蝕。
6、直接腐蝕法
直接腐蝕法也叫晶粒邊界腐蝕法。此法適用于測定淬火得到的馬氏體或貝氏體組織的鋼的奧氏體晶粒度。試樣不經磨制即可進行熱處理：將試樣加熱至930℃±10℃，保溫3小時后水冷，然后磨去脫碳層制成金相試樣，用含有0.5～1%烷基磺酸鹽的100克苦味酸飽和水溶液腐蝕。由于晶粒邊界被腐蝕變黑即可用以測定奧氏體的晶粒度。所得結果如圖1—41所示。為了得到更清晰的組織，試樣可經二次或三次腐蝕、拋光重復操作；或將腐蝕劑加熱到50℃±10℃后進行熱腐蝕。也可先將試樣在烷基苯磺酸鈉飽和苦味酸水溶液中浸蝕，經拋光去掉表面黑膜，再用飽和苦味酸灑精溶液腐蝕再次輕微拋光后即可進行觀察。
7、真空法
將試樣磨制、拋光后裝入真空爐爐中，當真空度達10—5毫米汞柱時，加熱至930℃±10℃，保溫3小時隨爐冷至200℃以下，停止擴散泵，繼續隨爐冷至室溫。出爐后可在顯微鏡下直接觀察（見圖1—42所示）。
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